XT V 160
Рентгеноскопическая система XT V 160 имеет отличное разрешение при высоком увеличении. В ней используется открытая рентгеновская трубка NanoTechTM с оптимальным разрешением — 500 нм, при этом ее максимальное геометрическое увеличение достигает 2 400Х (системное – до 36 000Х).

Предназначена для:

  • Проведение рентгеновского неразрушающего контроля
  • Контроль пайки электронных компонентов, включая SMD-компоненты, ГИС, ИМС в корпусах BGA, µBGA, CSP, flip chip и QFP
  • Контроль электронных компонентов (входной контроль)
  • Контроль монтажа межсоединений  в чипе
  • Контроль установки кристаллов
  • Контроль провисания проводников внутри ИМС
  • Рентгеноскопия иных объектов для определения визуально скрытых дефектов

Опция компьютерной томографии 3D-CT позволяет получать объемную модель исследуемого образца и значительно расширяет возможности анализа при исследовании образцов повышенной сложности. Также с ее помощью реализуется анализ томографических срезов исследуемого образца.Отличительная возможность рентгеноскопической системы XT V 160  — возможность работы с различными типами детекторов, в том числе с Flat Panel (FPD). Подобная конструкция позволяет в несколько раз повысить скорость получения компьютерной томографии  по сравнению с детекторами типа Image Intensifier. Сочетание данных характеристик уникально и позволяет потребителям достигать сверхчеткого и бесшумного изображения.Манипулирование исследуемым объектом выполняется с помощью моторизованного привода, позволяющего выполнять перемещение по осям X, Y, Z. Исследование образца под углом реализуется за счет программируемого наклона детектора и поворота рабочего стола.  Такое исполнение манипулятора (5-ти осевой манипулятор) позволяет сохранять на неизменном уровне увеличение исследуемого образца даже при крайних положениях детектора.


Если Вас заинтересовало данное оборудование, наши менеджеры дадут ответ на любой Ваш вопрос, просто свяжитесь с нами.